linux内核中对nand的坏块管理

闲来无事，追踪了下linux内核中对nand的坏块管理代码。大致记录一下。

内核中对nand的坏块管理是在nand的驱动中实现的，一般情况下，我们在实现nand控制器的驱动时不用考虑坏块的管理，这些机制已经在nand驱动的通用框架中实现了，我们要做的就是在nand驱动的框架上对接上nand控制器私有的操作与参数就可以了，例如读写函数以及nand控制器支持的ecc布局等。当然，这里主要是分析坏块管理的部分，就不多说驱动的开发了。

这里的分析是在bcm7231平台的nand驱动上面分析的。

nand驱动在加载的时候会调用nand_scan_tail函数，此函数的前面大部分是在确定所使用ecc方式和函数指针，以及一个页的读写需要作几次ecc校验等，这些都是根据nand驱动初始化的时候指定的一些参数决定的。在此函数的最后面开始关于BBT的操作：

/* Check, if we should skip the bad block table scan */
if (chip->options & NAND_SKIP_BBTSCAN)
    return 0;

/* Build bad block table */
return chip->scan_bbt(mtd);

首先会检查chip->options中是否有NAND_SKIP_BBTSCAN选项，如果有，则直接返回，NAND_SKIP_BBTSCAN一般是在nand控制器驱动中选择是否被赋予的，一般不会赋予NAND_SKIP_BBTSCAN选项。如果没有，则调用chip->scan_bbt()函数。chip->scan_bbt()是一个函数指针，一般在nand_set_defaults中被赋值为nand_default_bbt。

首先我们看下struct nand_chip结构体中关于BBT的部分：

 /**
  *... ...
  * @bbt:       [INTERN] bad block table pointer
  * @bbt_td:        [REPLACEABLE] bad block table descriptor for flash
  *         lookup.
  * @bbt_md:        [REPLACEABLE] bad block table mirror descriptor
  * @badblock_pattern:  [REPLACEABLE] bad block scan pattern used for initial
  *         bad block scan.
  *... ...
  */
struct nand_chip {
    ……
    uint8_t     *bbt
    struct nand_bbt_descr    *bbt_td;
    struct nand_bbt_descr    *bbt_md;
    struct nand_bbt_descr    *badblock_pattern;
    ……
};

bbt是在内存中分配的一块内存（nand_scan_bbt中分配的，后面会说到），这块内存会存放BBT。如果定义了NAND_BBT_USE_FLASH（这个可以在编写nand控制器驱动时选择），会先在nand中查找BBT是否存在，如果存在，然后读出放在bbt中，如果不存在（全新flash会有这种情况），则在bbt中建立BBT，然后写入nand中。如果没有定义NAND_BBT_USE_FLASH，那么会直接在bbt指向的内存中建立BBT。

bbt_td、bbt_md和badblock_pattern就是在nand_default_bbt函数中赋值的3个结构体。它们虽然是相同的结构体类型，但却有不同的作用和含义。其中bbt_td和bbt_md是主bbt和镜像bbt的描述符(镜像bbt主要用来对bbt的update和备份)，它们只在把bbt存储在NAND芯片的情况下使用，用来从NAND芯片中查找bbt。若bbt存储在内存中，bbt_td和bbt_md将会被赋值为NULL。

badblock_pattern就是坏块信息的pattern，其中定义了坏块信息在oob中的存储位置，以及内容(即用什么值表示这个block是个坏块)。通常用1或2个字节来标志一个block是否为坏块，这1或2个字节就是坏块信息，如果这1或2个字节的内容是0xff，那就说明这个block是好的，否则就是坏块。对于坏块信息在NAND芯片中的存储位置，small page(每页512 Byte)和big page(每页2048 Byte)的两种NAND芯片不尽相同。一般来说，small page的NAND芯片，坏块信息存储在每个block的第一个page的oob的第六个字节中，而big page的NAND芯片，坏块信息存储在每个block的第一个page的oob的第1和第2个字节中。即使某种NAND芯片的坏块信息不是这样的存储方式也没关系，因为我们可以在badblock_pattern中自己指定坏块信息的存储位置，以及用什么值来标志坏块(其实这个值表示的应该是“好块”，因为MTD会把从oob中坏块信息存储位置读出的内容与这个值做比较，若相等，则表示是个“好块”，否则就是坏块)。 

下面是nand_default_bbt的实现：

/**
 * nand_default_bbt - [NAND Interface] Select a default bad block table for the device
 * @mtd: MTD device structure
 *
 * This function selects the default bad block table support for the device and
 * calls the nand_scan_bbt function.
 */
int nand_default_bbt(struct mtd_info *mtd)
{
    struct nand_chip *this = mtd->priv;

    /*
     * Default for AG-AND. We must use a flash based bad block table as the
     * devices have factory marked _good_ blocks. Erasing those blocks
     * leads to loss of the good / bad information, so we _must_ store this
     * information in a good / bad table during startup.
     */
    if (this->options & NAND_IS_AND) {
        /* Use the default pattern descriptors */
        if (!this->bbt_td) {
            this->bbt_td = &bbt_main_descr;
            this->bbt_md = &bbt_mirror_descr;
        }
        this->bbt_options |= NAND_BBT_USE_FLASH;
        return nand_scan_bbt(mtd, &agand_flashbased);
    }

    /* Is a flash based bad block table requested? */
    if (this->bbt_options & NAND_BBT_USE_FLASH) {
        /* Use the default pattern descriptors */
        if (!this->bbt_td) {
            if (this->bbt_options & NAND_BBT_NO_OOB) {
                this->bbt_td = &bbt_main_no_bbt_descr;
                this->bbt_md = &bbt_mirror_no_bbt_descr;
            } else {
                this->bbt_td = &bbt_main_descr;
                this->bbt_md = &bbt_mirror_descr;
            }
        }
    } else {
        this->bbt_td = NULL;
        this->bbt_md = NULL;
    }

    if (!this->badblock_pattern)
        nand_create_badblock_pattern(this);

    return nand_scan_bbt(mtd, this->badblock_pattern);
}

在分析nand_scan_bbt函数之前先介绍下struct nand_bbt_descr的各成员的含义。其定义如下：

1. /**  
2.  * struct nand_bbt_descr - bad block table descriptor  
3.  * @options:    options for this descriptor  
4.  * @pages:  the page(s) where we find the bbt, used with option BBT_ABSPAGE  
5.  *      when bbt is searched, then we store the found bbts pages here.  
6.  *      Its an array and supports up to 8 chips now  
7.  * @offs:   offset of the pattern in the oob area of the page  
8.  * @veroffs:    offset of the bbt version counter in the oob are of the page  
9.  * @version:    version read from the bbt page during scan  
10.  * @len:    length of the pattern, if 0 no pattern check is performed  
11.  * @maxblocks:  maximum number of blocks to search for a bbt. This number of  
12.  *      blocks is reserved at the end of the device where the tables are  
13.  *      written.  
14.  * @reserved_block_code: if non-0, this pattern denotes a reserved (rather than  
15.  *              bad) block in the stored bbt  
16.  * @pattern:    pattern to identify bad block table or factory marked good /  
17.  *      bad blocks, can be NULL, if len = 0  
18.  *  
19.  * Descriptor for the bad block table marker and the descriptor for the  
20.  * pattern which identifies good and bad blocks. The assumption is made  
21.  * that the pattern and the version count are always located in the oob area  
22.  * of the first block.  
23.  */  
24. struct nand_bbt_descr {  
25.     int options;  
26.     int pages[NAND_MAX_CHIPS];  
27.     int offs;  
28.     int veroffs;  
29.     uint8_t version[NAND_MAX_CHIPS];  
30.     int len;  
31.     int maxblocks;  
32.     int reserved_block_code;  
33.     uint8_t *pattern;  
34. };  

options：bad block table或者bad block的选项，可用的选择以及各选项具体表示什么含义，可以参考。

pages：bbt专用。在查找bbt的时候，若找到了bbt，就把bbt所在的page号保存在这个成员变量中。若没找到bbt，就会把新建立的bbt的保存位置赋值给它。因为系统中可能会有多个NAND芯片，我们可以为每一片NAND芯片建立一个bbt，也可以只在其中一片NAND芯片中建立唯一的一个bbt，所以这里的pages是个维数为NAND_MAX_CHIPS的数值，用来保存每一片NAND芯片的bbt位置。当然，若只建立了一个bbt，那么就只使用pages[0]。

offs、len和pattern：MTD会从oob的offs中读出len长度的内容，然后与pattern指针指向的内容做比较，若相等，则表示找到了bbt，或者表示这个block是好的。 

veroffs和version：bbt专用。MTD会从oob的veroffs中读出一个字节的内容，作为bbt的版本值保存在version中。 
maxblocks：bbt专用。MTD在查找bbt的时候，不会查找NAND芯片中所有的block，而是最多查找maxblocks个block。 

下面接着分析nand_scan_bbt函数。

bcm7231的nand控制器驱动中有这么一行：chip->bbt_options |= NAND_BBT_USE_FLASH | NAND_BBT_NO_OOB;所以，上面函数的走向也很明确。

在最后调用了nand_scan_bbt函数。此函数的注释有这么一句话：

/**
 * nand_scan_bbt - [NAND Interface] scan, find, read and maybe create bad block table(s)
 ... ...
 */

可见，BBT的相关工作基本都是在这个函数内完成的。其函数实现如下：

int nand_scan_bbt(struct mtd_info *mtd, struct nand_bbt_descr *bd)
{
    struct nand_chip *this = mtd->priv;
    int len, res = 0;
    uint8_t *buf;
    struct nand_bbt_descr *td = this->bbt_td;
    struct nand_bbt_descr *md = this->bbt_md;

    len = mtd->size >> (this->bbt_erase_shift + 2);
    /*
     * Allocate memory (2bit per block) and clear the memory bad block
     * table.
     */
    this->bbt = kzalloc(len, GFP_KERNEL);
    if (!this->bbt) {
        printk(KERN_ERR "nand_scan_bbt: Out of memory\n");
        return -ENOMEM;
    }

    /*
     * If no primary table decriptor is given, scan the device to build a
     * memory based bad block table.
     */
    if (!td) {
        if ((res = nand_memory_bbt(mtd, bd))) {
            pr_err("nand_bbt: can't scan flash and build the RAM-based BBT\n");
            kfree(this->bbt);
            this->bbt = NULL;
        }
        return res;
    }
    verify_bbt_descr(mtd, td);
    verify_bbt_descr(mtd, md);

    /* Allocate a temporary buffer for one eraseblock incl. oob */
    len = (1 << this->bbt_erase_shift);
    len += (len >> this->page_shift) * mtd->oobsize;
    buf = vmalloc(len);
    if (!buf) {
        printk(KERN_ERR "nand_bbt: Out of memory\n");
        kfree(this->bbt);
        this->bbt = NULL;
        return -ENOMEM;
    }

    /* Is the bbt at a given page? */
    if (td->options & NAND_BBT_ABSPAGE) {
        res = read_abs_bbts(mtd, buf, td, md);
    } else {
        /* Search the bad block table using a pattern in oob */
        res = search_read_bbts(mtd, buf, td, md);
    }

    if (res)
        res = check_create(mtd, buf, bd);

    /* Prevent the bbt regions from erasing / writing */
    mark_bbt_region(mtd, td);
    if (md)
        mark_bbt_region(mtd, md);

    vfree(buf);
    return res;
}

上面已经说了，BBT可以存放在内存中，也可以存放在flash中，nand_scan_bbt会跟据bbt_td的值判断BBT是存放在内存中还是在flash中，bbt_td为NULL，那么BBT就会存放在内存中。在内存中建立BBT的过程是这样的：

直接调用nand_memory_bbt函数，nand_memory_bbt函数的主要工作就是在内存中建立bbt，其实就是调用了create_bbt函数。create_bbt函数的工作方式很简单，就是扫描NAND芯片所有的block，读取每个block中第一个page的oob内容，然后根据oob中的坏块信息建立起bbt，这坏块信息就是根据badblock_pattern来确定的。可以参见关于struct nand_bbt_descr中的offs、len和pattern成员变量的解释。 

相对与BBT存储在内存中来说，BBT存储在nand中的过程就稍微复杂一点了。

几下来就是在flash中创建或读取BBT了。

verify_bbt_descr(mtd, td);与verify_bbt_descr(mtd, md);没有做实际的动作，只是检查一下相关的参数。接下来由if (td->options & NAND_BBT_ABSPAGE)可知，从flash上读取读取BBT又分为两种情况。

第一种情况是定义了NAND_BBT_ABSPAGE，那么调用read_abs_bbts函数直接从给定的page地址读取。那么这个page地址在什么时候指定呢？就是在你的NAND driver中指定。前文说过，在struct nand_chip结构体中有两个成员变量，分别是bbt_td和bbt_md，MTD为它们附上了default的值，但是你也可以根据你的需要为它们附上你自己定义的值。假如你为bbt_td和bbt_md的options成员变量定义了NAND_BBT_ABSPAGE，同时又把你的bbt所在的page地址保存在bbt_td和bbt_md的pages成员变量中，MTD就可以直接在这个page地址中读取bbt了。值得一提的是，在实际使用时一般不这么干，因为你不能保证你保存bbt的那个block就永远不会坏，而且这样也不灵活。

第二种情况是调用那个search_read_bbts函数试着在NAND芯片的maxblocks(请见上文关于struct nand_bbt_descr中maxblocks的说明)个block中查找bbt是否存在，若找到，就可以读取bbt了。 

MTD查找bbt的过程为：如果你在bbt_td和bbt_md的options 成员变量中定义了 NAND_BBT_LASTBLOCK，那么MTD就会从NAND芯片的最后一个block开始查找(在default情况下，MTD就是这么干的)，否则就从第一个block开始查找。 

与查找oob中的坏块信息时类似，MTD会从所查找block的第一个page的oob中读取内容，然后与bbt_td或bbt_md中patter指向的内容做比较，若相等，则表示找到了bbt，否则就继续查找下一个block。顺利的情况下，只需查找一个block中就可以找到bbt，否则MTD最多会查找maxblocks个block。若找到了bbt，就把该bbt所在的page地址保存到bbt_td或bbt_md的pages成员变量中，否则pages的值为-1。 

如果系统中有多片NAND芯片，并且为每一片NAND芯片都建立一个bbt，那么就会在每片NAND芯片上重复以上过程。

接着，nand_scan_bbt函数会调用check_create函数，该函数会判断是否找到了bbt，其实就是判断bbt_td或者bbt_md中pages成员变量的值是否有效。若找到了bbt，就会把bbt从NAND芯片中读取出来，并保存到struct nand_chip中bbt指针指向的内存中；若没找到，就会调用create_bbt函数建立bbt(与bbt存储在内存中时情况一样)，同时把bbt写入到NAND芯片中去。

http://blog.csdn.net/haomcu/article/details/8181622