【量子芯链】《集成电路可测性设计（DFT)工程师》

《集成电路可测性设计（DFT)工程师》课程是工业和信息化部教育与考试中心组织开展的“工业和信息化职业技能提升工程”培训项目，旨在培养集成电路可测性设计（DFT）高级应用型人才，提升一线企业工作人员的理论和动手能力。

随着集成电路设计规模的增加和工艺水平的提高，Design-For-Test在设计流程中已成为不可缺少的一环，所占比例越来越大，直接影响到产品质量、生产成本和生命周期。DFT就是要确保以{BANNED}最佳少的投入，来取得高质量产品。

本次培训将展示和讲解Scan/ATPG 的技术和解决方案，同时也会介绍DFT其它技术的基本方法包括MBIST/BoundarySCAN/Diagnosis。结合相应的实际练习，了解在ATPG领域所备受关注的各种问题，学习和掌握使用扫描链和测试点插入工具；ATPG产生工具Tessent Fastscan。了解整个ATPG处理的流程，包括设计可测性分析，可测电路设计，测试向量产生，以及低可测性的改进方法和高质量测试缺陷类型的覆盖。 

Part.01活动详情

【主办单位】电子芯链集成电路学院 

【授课方式】线上直播授课（安博O课平台）

【培训时间】2023年11月12日-2023年11月19日

【结业证书】由工业和信息化部教育与考试中心颁发《工业和信息化职业能力证书》,学员信息纳入“工业和信息化技术技能人才库”。可在官网查询。

Part.02课程内容和安排

Part.03授课教师介绍

授课讲师主要由来自北方工业大学及业界经验丰富的资深测试应用技术专家组成，均具有10年以上的集成电路测试教育培训及复杂芯片可测性设计应用经历。对复杂芯片SOC如人工智能，汽车电子和GPU等可测性设计，积累了实际的技术经验。在逻辑电路可测性设计、存储器可测性设计、边界扫描技术、内建自测试技术设计方面，全面掌握当前芯片测试设计的需求和工程测试设计规划的制定。对主流可测性设计软件的项目开发与应用方面具有丰厚的理论和实践积淀。 

付永杰，资深DFT Staff工程师，从事DFT可测性设计与应用多达20年，具有国内外DFT可测性设计和应用工作经验。对逻辑电路可测性设计和存储器BIST测试，以及边界扫描电路应用与芯片良率改善分析等技术应用，以及复杂芯片SOC如人工智能，汽车电子和GPU等可测性设计方面，都积累了丰富的实践经验。

魏淑华，博士，北方工业大学副教授。主要从事集成电路测试、集成电路工艺等方面的教学和科研工作。主持完成国家自然科学基金，北京市自然科学基金，国际合作与交流等项目。教授《集成电路测试技术基础》，《虚拟测试技术》，《集成电路测试实践》及《集成电路测试及可测性设计》等课程，在集成电路测试基本理论，测试方法及集成电路测试设备实践方法积累了丰富经验。