分类： 嵌入式
2015-04-02 15:15:47
JTAG（Joint Test Action Group，联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、 TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。
JTAG最初是用来对芯片进行测试的，基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。现在，JTAG接口还常用于实现在线编程（ISP，In-System Programmable），对FLASH等器件进行编程。
JTAG编程方式是在线编程，传统生产流程中先对芯片进行预编程实现再装到板上因此而改变，简化的流程为先固定器件到电路板上，再用JTAG编程，从而大大加快工程进度。JTAG接口可对PSD芯片内部的所有部件进行编程。
简单地说，JTAG的工作原理可以归结为：在器件内部定义一个TAP（TestAccessPort，测试访问口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试和调试。
边界扫描（Boundary-Scan）即在芯片的每个输入输出管脚上都增加一个移位寄存器单元（Boundary-Scan Register Cell），因为这些移位寄存器单元分布在芯片的边界上，所以被称为边界扫描寄存器。在JTAG 调试中，边界扫描是一个很重要的概念，当需要调试芯片时，这些寄存器将芯片与外围电路隔离，实现对芯片输入输出信号的观察和控制：对于输入管脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器单元把数据加载到该管脚中；对于输出管脚，可以通过与之相连的边界扫描寄存器“捕获”（CAPTURE）该管脚上的输出信号；正常运行状态下，这些边界扫描寄存器单元对芯片是透明的，所以正常的运行不会受到影响。另外，芯片输入输出管脚上的边界扫描（移位）寄存器单元可以相互连接起来，在芯片的周围形成一个边界扫描链（Boundary-Scan Chain），它可以串行的输入和输出，通过相应的时钟信号和控制信号，实现对处在调试状态下的芯片的输入和输出状态的观察和控制。
在CPU外围，处理器内部包含了JTAG的硬件实现，并且向外界提供接口，也就是上面所说的TMS、TCK、TDI、TDO四个引脚。
· 这里的CPU：是指运算处理单元，只包含了内部寄存器以及运算单元等基本部件。
· 这里的处理器：是指CPU 扩展芯片，不是SoC。
说明：更多关于CPU和处理器之间的关系，请参考文章《》。
边界扫描链
JTAG如何用于芯片测试呢？ 其中用到的最主要部件就是边界扫描链。命名为边界扫描链，是由于它位置处于处理器的边界上。
我们知道CPU是通过引脚与外围交流的，所有的数据都会通过引脚输入或者输出，而JTAG就是通过监控引脚的信号达到芯片测试的目的。而边界扫描链就是在引脚上的一个部件。如下图：
边界扫描链位置
通过边界扫描链，当有信号输入的时候，边界扫描链就能获取信号，当CPU要输出信号的时候，边界扫描链也能获取要输出的信号。另外，也可以通过边界扫描链来直接向外部输出信号。
无论是信号的抓取还是输出，都需要有接口来保存这些信号，TDI 跟 TDO 就是做这样一些工作的。如图：
JTAG TDI TDO示意图
本来边界扫描链保存着引脚上的信号，当通过TDI引脚输入我们自己的信号的时候，会发生沿上面红线方向的移位操作，
TDI ——〉 边界扫描链 —— 〉 TDO
就能从TDO获取边界扫描链上的信号，我们从TDI输入的信号也会到边界扫描链上去。
在CPU跟外界通信的引脚上的数据无非就是 指令 跟 数据信号（包括地址跟数据） 两种。但是这两者的结合形成了一个完整的程序，能对它们进行监控就表明我们能进行程序的调试。一般的芯片都会提供几条独立的边界扫描链，对边界扫描链的控制主要是通过 TAP（Test Access Port） Controller来完成的。
TAP（TestAccessPort）是一个通用的端口，通过TAP 可以访问芯片提供的所有数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。对整个TAP的控制是通过TAP控制器(TAPController)来完成的。下面先 分别介绍一下TAP的几个接口信号及其作用。其中，前4个信号在IEEE1149.1标准里是强制要求的。
· TCK：时钟信号，为TAP的操作提供了一个独立的、基本的时钟信号。
· TMS：模式选择信号，用于控制TAP状态机的转换。
· TDI：数据输入信号。
· TDO：数据输出信号。
· TRST：复位信号，可以用来对TAPController进行复位(初始化)。这个信号接口在IEEE1149.1标准里并不是强制要求的，因为通过TMS也可以对TAPController进行复位。
· STCK：时钟返回信号，在IEEE1149.1标准里非强制要求。
简单地说，PC机对目标板的调试就是通过TAP接口完成对相关数据寄存器(DR)和指令寄存器(IR)的访问。
系统上电后，TAPController 首先进入 Test-LogicReset 状态，然后依次进入Run-Test/Idle、Selcct-DR- Scan、Select-IR-Scan、Capture-IR、Shift-IR、Exitl-IR、Update-IR状态，最后回到 Run- Tcst/Idle 状态。在此过程中，状态的转移都是通过TCK信号进行驱动(上升沿)，通过TMS信号对TAP的状态进行选择转换的。其中，
在 Capture-IR状态下，一个特定的逻辑序列被加载到指令寄存器中；
在Shift-IR状态下，可以将一条特定的指令送到指令寄存器中；
在 Update—IR状态下，刚才输入到指令寄存器中的指令将用来更新指令寄存器。
最后，系统又回到Run—Test/Idle状态，指令生效，完成对指令寄存器的访问。
当系统又返回到Run—Test/Idle状态后，根据前面指令寄存器的内容选定所需要的数据寄存器，开始执行对数据寄存器的工作。其基本原理与指令寄存器的访问完全相同，依次为seIect—DR—Scan、Capture—DR、Shift—D、Exitl一DR、Update—DR， 最后回到 Run-Tcst/Idle 状态。通过TDl和TDO，就可以将新的数据加载到数据寄存器中。经过一个周期后，就可以捕获数据寄存器中的数据，完 成对与数据寄存器的每个寄存器单元相连的芯片引脚的数据更新，也完成了对数据寄存器的访问。
http://www.cnblogs.com/TaigaCon/archive/2012/12/20/2826941.html
