2012年(770)
分类: Oracle
2012-08-07 10:18:51
用简单坐标法绘制的累积粒度分析曲线虽然广泛应用,但也有缺点。如果粒度范围很宽时,由于细粒级在横坐标上的间距特别短,点很密集,曲线难以绘制和使用。因此,必须把曲线绘在很大的图纸上,制作和使用都很不方便。如果用对数坐标来表示颗粒级别的尺寸,细级别的横坐标的间距增长,可以避免细粒级各点过分密集的缺点。
半对数坐标法是横坐标(粒级尺寸)用对数表示,纵坐标用算术坐标表示的累积粒度分析曲线的方法,曲线称半对数累积粒度分析曲线。如果筛分分析所用的套筛的筛比相同,绘制半对数粒度分析曲线非常简单。因为在横坐标上相邻两个筛子的筛孔之间的距离都是一样的。例如筛比为以的泰勒标准筛,各筛孔尺寸的对碎矿和磨矿产物的筛分分析资料是一批数据,如果用数学方法整理它们,就有可能得到足以概括它们的数学式,这样得到的数学式叫做粒度特性方程式。
同一批破碎产物,用不同的数学方法处理,可以得到不同的粒度特性方程式。破碎产物的粒度特性,有时不是只用一个方程式概括得了的,甚至找不到适合它的粒度特性方程式。但是,一般、和分级设备处理组织不太复杂的矿料所得的产物,常常可以用下面讲的两种粒度特性方程式。既然粒度特性方程式有概括复杂的筛分分析数据的好处。