2012年(642)
分类: DB2/Informix
2012-05-21 17:00:57
氧化还原环境时矿物表面性质的影响,上面分析是在阴离子捕收剂的基础上进行的,对于阳离子捕收剂,情况恰好相反。当矿浆pH值过高时,由于OH与阴离子捕收剂在矿物表面进行竞争,一些矿物由于吸附了0H一而在其表面生成亲水性薄膜,阻碍矿物表面吸附捕收fiii ~离子,并影响其可浮 (1)多数情况下,对阴离子浦收剂,P型半导体矿物对药荆的吸附性能比N型半导体矿物好。因此,对P型半导体矿劫,浮进时,应选用阴离子捕收和较为合适。
对N型半导体矿体,应选用阳离子捕收刺。如用阴离子捕收剂,为了改善其对药剂的吸附量,应降低其载流于优。为了降低矿物晶格中的载流子比,使半导体矿物的空穴增加,可以用光照,表面掺杂等方法解决。普拉克辛等人经过试验证明,氯化还原反应能改变许多半导体矿物表面的载流子比,从而改变浮选指标。通常使用的多数浮选药剂均可在矿物表面进行氧化还原反应。对于硫化矿半导体矿物,与浮选药剂的作用,可以分下面两种情况进行讨论。
浮选过程中,若介质中含有大量硫化钠或介质碱性很高,相当于上述情况。对于P型半导体,当还原剂浓度不大时,还原痢电子往矿物表面迁移,对矿物表面性质影响较小}当还原荆浓度增大时,还原剂往矿物表面迁移的电子,会充满矿物上的空穴,增加nJnp,使矿物表面自由电子过剩,同样生成反型层,影响到捕收剂阴离子在矿物表面的吸附。