什么是eFuse

eFuse的诞生源于几年前IBM工程师的一个发现：与更旧的激光熔断技术相比，电子迁移(EM)特性可以用来生成小得多的熔丝结构。EM熔丝可以在芯片 上编程，不论是在晶圆探测阶段还是在封装中。采用I/O电路的片上电压(通常为2.5V)，一个持续200微秒的10毫安直流脉冲就足以编程单根熔丝。

　　不同于大多数FPGA使用的SRAM阵列，eFuse一次只有一根熔丝能够被编程，这是该方法的配置能力存在限制范围的原因。但当与日益成熟 的内置自测试(BIST)引擎组合使用时，这些熔丝就变成了强大的工具，能减少测试和自修复的成本，而这正是复杂芯片设计所面临的重大挑战。 

　　eFuse就好像在硅片上建立了无数个交通岗哨，控制信号的传输或停止，据悉这将把芯片中的电路运行效率提高上千倍。这种功能将会为电子领域 带来一种“大规模市场效应。”FPGA提供商加州Xilinx公司CTO里奥.波尔森先生表示：“比如您购买了一个新的控制器，最开始的时候控制器的功能 是空的，不过在把它带回家后，它重新识别了您家中的所有系统，电视、音响、DVD、并且自动对自身进行改造，来控制这些电器。