金相显微镜之微分干涉(DIC)-蔡康专业生产
金相显微镜之微分干涉（DIC)
不仅能观察物体的轮廓、表面等，还能加上DIC后，在材料显微分析中使用微分干涉相衬法观察物体，能够容易判断许多明场下所看不到的或难于判别的一些结构细节或缺陷，常应用于观察导电粒子，压迫等。
微分干涉相衬法具有对金相样品的制备要求较低，所观察到的样品各组成相间的相对层次关系突出，同时也增加了各相间的反差。使其被观察物呈明显的浮雕状，对颗粒、裂纹、孔洞以及凸起等。
光学效果在所有光学仪器中都是名列前茅的品牌仪器，在微分干涉方面更是不落后别的品牌。
利用DIC法，可以对金相组织的某些精细结构进行观察，可以在降低金相制样要求的情况下，通过DIC染色把需要分析的物相突出出来，从而提高分析的准确率。DIC 法必然会在现代金相检验中发挥其重要作用。
微分干涉相衬法基于传统的正交偏光法，又巧妙地把DIC 棱镜和补色器(λ- 片)结合在一起，使所观察的样品以光学干涉的方法染上丰富的色彩，由于微分干涉相衬得效果与样品细节的浮雕像以及色彩都是可以调节的，因而比正交偏光更为优越。
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