Chinaunix首页 | 论坛 | 博客
  • 博客访问: 2114785
  • 博文数量: 374
  • 博客积分: 7276
  • 博客等级: 少将
  • 技术积分: 5668
  • 用 户 组: 普通用户
  • 注册时间: 2011-10-06 16:35
文章分类

全部博文(374)

文章存档

2013年(23)

2012年(153)

2011年(198)

分类: LINUX

2011-12-08 11:46:55

发展到今天,传统的模拟示波器已经渐渐淡出了人们的视野,数字示波器几乎已经取代模拟 示波器成为硬件工程师手中电路调试的最常用的一种仪器设备了。你是否觉得示波器提供给了被测信号的所有信息呢?事实上,示波器在大部分时间都处在一个无法 检测信号的无信号状态,通常把这段丢失信号的时间称为死区时间。  

  什么是死区时间  

  要想了解死区时间的来源,需要先对数字示波器的结构有一个基本的了解。数字示波器的典型组成框图。  

  被测信号通过输入通道进入示波器,并通过垂直系统中的衰减器和放大器加以调节。模数转换器(ADC)按照固定的时间间隔对信号进行采样,并将各个信号振幅转换成离散的数字值,称为“样本点”。采集模块随后则执行处理功能,例如样本抽取,默认一般都为采样模式。输出数据作为样本点(samples)存储在采集存储器中。存储的样点数目用户可以通过记录长度进行设置。  

  根据用户的需求,还可以对这些样本点进一步后处理。后处理任务包括算数功能(例如求平均值)、数学运算(例如FIR 滤波)、自动测量(例如上 升时间或下降时间)以及分析功能(例如直方图或模板测试)。其他后处理例如还包括协议解码、抖动分析和矢量信号分析等等。  

  对于数字示波器而言,基本上对波形样本执行的处理步骤没有任何限制。这些后处理功能或者使用软件通过该仪器的主处理程序执行,或者使用专用的ASIC或FPGA硬件执行,具体取决于示波器的结构。最终结果随后通过示波器的显示屏呈现给用户。  

  R$S RTO系列示波器和传统数字示波器的在信号处理过程上的区别,它使用了专门独立开发的ASIC芯片RTC和FPGA来实现波形样本的后 处理,如通道校准、样本抽取、数字滤波、math、直方图测量、模板测试以及FFT、自动测量、协议解码等等,大大降低了主处理器的工作负荷,同时在 RTO芯片中用数字触发取代了模拟触发电路,消除了模拟触发电路带来的触发抖动,传统的中高示波器为了减小这部分抖动,需要大量的DSP后处理。硬件结构 上的创新,极大的缩短了RTO示波器波形样本后处理所耗费的时间。  

  示波器从信号采样捕获到波形样本的处理显示这一周期,称为捕获周期,在前一个捕获周期结束后,示波器才能够捕获下一个新波形。所以,数字示波器 将捕获周期的大部分时间都用于对波形样本的后处理上,在这一处理过程中,示波器就处于无信号状态,无法继续监测被测信号。从根本上来说,死区时间就是数字 示波器对波形样本后处理所需要的时间。  

  死区时间和捕获周期及波形捕获率关系  

  捕获周期由有效捕获时间和死区时间周期组成。在有效捕获时间内,示波器按照用户设定波形样本数进行捕获,并 将其写入采集存储器中。捕获的死区时间包含固定时间和可变时间两部分。固定时间具体取决于各个仪器的架构本身。可变时间则取决于处理所需的时间,它与设定 的捕获样本数(记录长度)、水平刻度、采样率以及所选后处理功能(例如,插值、数学函数、测量和分析)多少都有直接关系。死区时间和捕获周期之比死区时间 比也是示波器的一个重要特性,捕获周期的倒数就是波形捕获率。  

  例如,如果有效捕获时间是 100 ns(样本数为1k,采样率为10G),而死区时间是10 ms,那么整个捕获周期所用的时间是 10.0001 ms。由此得到的死区时间比是99.999%,而波形捕获率是每秒不到100个波形。目前市场上大部分示波器在常规测量模式下面的波形捕 获率都在几百次的量级, R&S公司最新的RTO系列示波器在同等条件下可以实现最高1,000,000次的波形捕获率,死区时间比可以降低到 90%一下,远远要高出其他示波器。有些带宽≤1G的示波器在其最高采样率下,可以达到50,000次/秒的波形捕获率,其死区时间比也高达99.5%以 上。  


  死区时间和波形捕获率对测量结果的影响  

  很多工程师在硬件调试过程中可能遇会到过这样的情形:在调试的后期阶段,电路板主 要器件的焊接基本完成,在进行功能验证过程中,发现系统一运行没多久就会出故障,但是通过示波器查看关键的时钟和使能信号都 “没有问题”,最终将故障原 因定为在软件原因,然后逐行检查代码,进行软件优化。现在已经对示波器的死区时间已经有了清晰的认识,对于上面的情形还有一种可能就是示波器漏掉了导致系 统故障的偶发信号,图4可以很形象的说明这一问题:  

  由于示波器死区时间的存在,导致示波器可能漏掉关键的异常信号,而给用户显示一个带有欺骗性的结果,最终误导用户的判断,会大大延长调试时间,降低调试效率。  

  根据公式1,如果波形捕获时间(即,样本数 * 分辨率,或 10 * 水平刻度)、波形捕获率和信号事件发生速率(例如脉冲干扰的重复速率)均已确定,那么增加测量时间,会加大捕获并显示信号事件的概率:  
  公式 1:  
  P:捕获偶发重复信号事件的概率 [单位是 %]  
  GlitchRate:信号故障频率(例如,重复脉冲干扰)[单位是 1/s]  
  T:有效捕获时间或波形显示时间(记录长度/采样速率,或记录长度 * 分辨率,或 10 * 时间量程/格)[单位是 s]  
  AcqRate:波形捕获率 [单位是 wfms / s]  
  Tmeasure:测量时间 [单位是 s]  
  如果知道概率,对公式1进行变换,可以计算捕获该偶发信号所需时间:  
  公式 2:  
   假定某个信号带一个有每秒重复10次的异常。该信号本身以数据形式显示在示波器上,所采用的水平刻度为10 ns/div。如果所用显示屏有10个水平 格,则可以计算 100 ns 的有效捕获时间。为了确保捕获所需信号事件的置信度较高,需要使用 99.9% 的概率。现在,所需的测试时间取决于示波 器的波形捕获率。下表统计了几种不同的波形捕获率所对应的所需测试时间。  

  表1:在概率为 99.9%(T=100 ns,GlitchRate=10/s)的条件下,捕获重复异常信号所需时间。虽然R&S的 RTO系列示波器在该条件下的时期时间比还有接近90%左右,但是其发现偶发异常信号能力确是成数量级的上升,可以帮助工程师极大的提高调试效率。试问: 有几位工程师在检查每一个信号时可以在示波器上看超过7秒钟时间的呢?  

  前面也提到,波形捕获率和水平刻度、记录长度、采样率的设置都有关系,在实际测量中,如何根据实际的被测信号在这些参数设置中找到一个平衡点, 以最高的捕获概率查看波形,提高调试效率,这是工程师在数字示波器使用过程中需要考虑的问题,这一部分会在以后文章中专门讨论。
阅读(1941) | 评论(0) | 转发(2) |
给主人留下些什么吧!~~